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皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

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皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-28 00:14

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

仪器的技术指标Q值测量范围:2~1023Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

电感测量范围:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。电容直接测量范围:1~460pF                                                主电容调节范围:30~500pF                                            电容准确度150pF以下±1.5pF;150pF以上±1% 信号源频率覆盖范围100KHz-70MHz(双频对向搜索  确保频率不被外界干扰)另有GDAT-C频率范围200KHZ-100MHz

 皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

0.01 mΩ —99.9999 MΩ

短路校正包括采用插入计算法的全频短路校正和对所设定的2 个频率点进行的单频短路校正。执行下列操作步骤利用插入计算法对全频率进行短路校正。

显示方式 直读,Δ,Δ%,V/I(被测电压/电流监视)显示器 800×480 RGB7英寸 9 TFT LCD显示器

[SYSTEM] 键

可外接大电流直流偏置源

[SYSTEM] 键

存储器 10组内部仪器设定供存储/调用

按键会被点亮,表示允许直流偏置输出;再次按[DC BIAS]键,[DC BIAS] 按键会熄灭,

存储器 10组内部仪器设定供存储/调用

频率频率2 的短路校正数据将被用于短路校正的计算。按软键 关 ,关闭短路校正功能。以后的测量过程中将不再进行短路校正的计算。

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

[RESET]键:按[RESET]键,仅在变压器自动扫描时终止扫描,其他页面仪器不执行任何操作。

GDAT-S 的开路校正功能能与被测元件相并联的杂散导纳造成的误差。

0.01mΩ —99.9999 MΩ

<默认设置>

电流激励低端(Lcur)。

频率频率2 的短路校正数据将被用于短路校正的计算。按软键 关 ,关闭短路校正功能。以后的测量过程中将不再进行短路校正的计算。

园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。

频率频率2 的短路校正数据将被用于短路校正的计算。按软键 关 ,关闭短路校正功能。以后的测量过程中将不再进行短路校正的计算。

显示方式 直读,Δ,Δ%,V/I(被测电压/电流监视)显示器 800×480 RGB7英寸 9 TFT LCD显示器

短路校正包括采用插入计算法的全频短路校正和对所设定的2 个频率点进行的单频短路校正。执行下列操作步骤利用插入计算法对全频率进行短路校正。

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

性能特点4.3寸TFT液晶显示中英文可选操作界面高1MHz的测试频率,10mHz分辨率

显示页面区域:该区域指示当前页面的名称。

夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时)

移动光标至开路设定域,屏幕软键区显示下列软键。开关开路全频清零 DCR 开路

可外接大电流直流偏置源

RS232C 串行接口:串行通讯接口,实现与电脑的联机通讯。 HANDLER 接口:HDL 接口,实现测试结果的分选输出。

3.显示范围

GDAT-S 的开路校正功能能与被测元件相并联的杂散导纳造成的误差。

测试原理

[DC BIAS]键:[DC BIAS]键用于允许或禁止0-100mA/10V 直流偏置电源输出。按[DC BIAS]键,[DCV BIAS]

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

保证二个测微杆0.01mm分辨率。

按软键 关 ,关闭开路校正功能。以后的测量过程中将不再进行开路校正的计算。

性能特点4.3寸TFT液晶显示中英文可选操作界面高1MHz的测试频率,10mHz分辨率

机壳接地端:该接线端与仪器机壳相连。可以用于保护或屏蔽接地连接。

测试端配置 五端列表扫描 10点列表扫描功能

短路校正功能操作步骤

[COPY]键:图片保存键,保存测试结果图片到USB 存储器。[MEAS]菜单键:按[MEAS]键,进入仪表测量功能相应的测试显示页面。

测量结果/条件显示区域:该区域显示测试结果信息和当前的测试条件。

电压取样高端(Hpot);

开路校正

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

机壳接地端:该接线端与仪器机壳相连。可以用于保护或屏蔽接地连接。光标键 (CURSOR):光标键用于在LCD 显示页面的域和域之间移动光标。当光标移动到某一域,该域在液晶

数显电极

按键会被点亮,表示允许直流偏置输出;再次按[DC BIAS]键,[DC BIAS] 按键会熄灭,

电容量线性:0.33pF / mm±0.05 pF

GDAT-S用了65k 色的4.3 寸宽屏TFT 显示屏,显示屏显示的内容被划分成如下的四个显示区域,见图4

[←]键:BACKSPACE 键。按此键删除输入数值的后一个数字。

移动光标至开路设定域,屏幕软键区显示下列软键。开关开路全频清零 DCR 开路

偏置源 内部 -5V~+5V直流偏置电压源,准确度:1%

中止该软键可中止当前的短路校正测试操作。保留原来的短路校正数据不变。

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

测试端(UNKNOWN):四端测试端,用于连接四端测试夹具或测试电缆,对被测件进行测量。

按软键 关 ,关闭开路校正功能。以后的测量过程中将不再进行开路校正的计算。

[ESC]键:退出键。

GDAT-S用了65k 色的4.3 寸宽屏TFT 显示屏,显示屏显示的内容被划分成如下的四个显示区域,见图4

本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放板电容器和不放进样品的Q值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。性能特点:

IEEE-488 接口(选购件):GPIB 接口,实现与电脑的联机通讯。

测量数据可直接保存到U盘RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

按软键 关 ,关闭开路校正功能。以后的测量过程中将不再进行开路校正的计算。

平衡测试功能

记录键 (LOG):此键在MEAS 界面插入U 盘后自动记录测试数据,于SYSTEM 保存系统设置。

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

保证二个测微杆0.01mm分辨率。

<用户校正>

接口 标配RS232C、HANDLER、USB HOST,耳机接口,可选GPIB、LAN接口;通用技术参数

开路校正

0.01mΩ —99.9999 MΩ

软键。

平衡测试功能

将测试夹具连接到仪器测试端。用一个短路校准附件放置于二个极片之间,调节电极间距,使二电极短路.

内建比较器,10档分选和计数功能

按软键 关 ,关闭开路校正功能。以后的测量过程中将不再进行开路校正的计算。

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

基本测量准确度 0.05%

果频率频率2 设置为OFF, 短路校正计算采用插入法所计算出的当前频率的短路校正数据。如果频率频率2 设置为ON, 同时当前测试频率等于频率频率 则

平衡测试功能

移动光标至短路设定域,屏幕软键区显示下列软键。

电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 测试信号电平监视功能

电源插座:用于输入交流电源。

园筒电容器

开机插上三线电源插头,注意:应保持供电电压、频率等条件符合上述规定。电源输入相零地线E 应与本仪器电源插头上的相线,零线相同。

极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm

<元件测试设置>

皋兰薄膜介电常数测试仪 定制

测量速度(≥1kHz) 快速: 200次/秒, 中速: 12次/秒, 慢速: 3次/秒 平均次数 1—255

按软键 DCR 开路,将进行直流电阻功能下开路电阻的测量。

存储器 10组内部仪器设定供存储/调用

用户校准

[←]键:BACKSPACE 键。按此键删除输入数值的后一个数字。

移动光标至短路设定域,屏幕软键区显示下列软键。

测试原理

显示页面区域:该区域指示当前页面的名称。

[COPY]键:图片保存键,保存测试结果图片到USB 存储器。[MEAS]菜单键:按[MEAS]键,进入仪表测量功能相应的测试显示页面。

果频率频率2 设置为OFF, 短路校正计算采用插入法所计算出的当前频率的短路校正数据。如果频率频率2 设置为ON, 同时当前测试频率等于频率频率 则

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